恒溫恒濕試驗箱溫度范圍：

 1. 高溫范圍

- 高端的恒溫恒濕試驗箱高溫可以達到 +180℃左右。在高溫環(huán)境下，主要用于測試材料和產品的耐高溫性能。例如，在化工行業(yè)，一些塑料管材、橡膠密封件等材料，需要在高溫環(huán)境下測試其穩(wěn)定性。當溫度達到180℃時，可以觀察材料是否會發(fā)生軟化、變形、分解等情況，以評估其在高溫環(huán)境中的適用性。

- 比較常用的高溫范圍是 +150℃。在電子電器行業(yè)，許多電路板和電子元器件在工作過程中會產生熱量，通過在150℃的高溫環(huán)境下測試，可以檢驗其散熱性能和在高溫下的工作可靠性。如電腦CPU的散熱片，在這樣的高溫測試環(huán)境中，可以評估其是否能夠有效地將熱量散發(fā)出去，保證CPU的正常工作。

2. 常溫范圍

- 通常恒溫恒濕試驗箱的常溫范圍是15 - 35℃，這個范圍符合大多數(shù)產品正常的使用環(huán)境溫度。在這個溫度區(qū)間內，可以對產品進行性能測試和校準。例如，對于一些精密儀器，如光學顯微鏡、電子天平之類的設備，需要在常溫環(huán)境下進行精度測試，確保其在正常使用溫度下能夠準確地工作。同時，這個溫度范圍也可以用于模擬產品在室內環(huán)境或者一般工業(yè)廠房內的工作條件。

3. 低溫范圍

- 一般恒溫恒濕試驗箱的低溫極限可以達到 -70℃左右。這個低溫環(huán)境主要用于模擬一些極端寒冷的條件，比如極地氣候或者高海拔地區(qū)的低溫環(huán)境。在電子、航空航天等領域，很多產品的零部件需要在這樣的低溫下進行測試，以檢驗其性能是否穩(wěn)定。例如，電子元件在低溫下可能會出現(xiàn)電容值變化、半導體器件性能下降等情況，通過在 -70℃的環(huán)境中測試，可以提前發(fā)現(xiàn)這些潛在問題。

- 還有一些試驗箱的低溫范圍是 -40℃左右，這也是比較常見的低溫測試溫度。對于汽車零部件、通信設備等產品，-40℃的低溫測試能夠模擬它們在寒冷地區(qū)的使用環(huán)境，確保在低溫條件下設備的正常啟動和運行。像汽車的電瓶、發(fā)動機控制單元等部件，在這樣的低溫環(huán)境下可以測試其耐寒性，防止在低溫環(huán)境中出現(xiàn)無法啟動或者故障等情況。

4. 溫度波動度和均勻度

- 溫度波動度是指在穩(wěn)定狀態(tài)下，試驗箱工作空間內任意一點的溫度隨時間的變化量。一般高質量的恒溫恒濕試驗箱溫度波動度可以控制在±0.5℃以內。這對于需要高精度溫度環(huán)境的測試非常重要，比如生物制藥行業(yè)的細胞培養(yǎng)實驗，溫度波動過大可能會影響細胞的生長和代謝。

- 溫度均勻度是指在穩(wěn)定狀態(tài)下，試驗箱工作空間各點溫度之間的差異程度。好的試驗箱溫度均勻度可以達到±2℃以內，這能保證試驗箱內各個位置的產品都能處于較為一致的溫度環(huán)境中。例如，在對一批電子產品進行老化測試時，均勻的溫度環(huán)境可以確保所有產品都能在相同的溫度條件下接受測試，使得測試結果更具代表性。

哈思恒溫恒濕試驗箱規(guī)格型號：

哈思恒溫恒濕試驗箱溫度范圍：

G:-20℃～+150℃       Z：-40℃～+150℃       D：-70℃～+150℃

哈思恒溫恒濕試驗箱濕度范圍：

5～98%R.H/10～98%R.H/5～98%R.H/10～98%R.H/20~98%R.H

（特殊規(guī)格可定制）